定制高頻超聲波探頭-High-Frequency Transducers


定制用于超聲波顯微鏡成像系統(tǒng)的點聚焦探頭

增宜檢測-高頻超聲波探頭出廠測試報告

我們能夠定做高達(dá)125MHz的超聲波探頭,這些超聲波探頭可以用于C-SAM超聲波掃描顯微鏡成像系統(tǒng)以及其他需要高精密成像的超聲波系統(tǒng)。除了頻率可以定制外,探頭的接口(SAM/BNC/LEMO/Q9/Q6/C9/C5/UHF/L5等),線長(幾十毫米-幾十米),線纜屏蔽層類型(單屏蔽/雙屏蔽),出線方向(直角/平直/或其它角度),外殼類型(水浸/接觸式),晶片形狀(圓形/方形),晶片尺寸(2-50mm),聚焦類型(點聚焦/線聚焦/非聚焦),聚焦長度(探頭自然焦點以內(nèi)),用于發(fā)射和或用于接收等都可以按照您的要求進(jìn)行定制。交貨周期短至4-6周。如有需求歡迎與我們聯(lián)系。

優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計提供了極佳的時間分辨率。
• 短波長可獲得極強(qiáng)的缺陷分辨率能力。 
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。 
• 頻率范圍為20 MHz到125 MHz。 

應(yīng)用 
• 高分辨率缺陷探測,如:微孔隙檢測或微裂紋檢測。 
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。 
• 可測量薄如0.010毫米( 0.0004英寸)材料的厚度*。 
• 可對陶瓷及高級工程材料進(jìn)行檢測。 
• 可對材料進(jìn)行分析。 *厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。
超聲波成像效果-左側(cè)低頻探頭vs右側(cè)高頻探頭