延遲塊探頭
延遲塊探頭
延遲塊探頭
可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測。
可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測。
可更換延遲塊探頭
• 每個探頭的配置都帶有一個標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個固定環(huán)。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
• 每個探頭的配置都帶有一個標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個固定環(huán)。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
頻率 標(biāo)稱
晶片尺寸
探頭
工件編號
MHz 英寸 毫米
2.25 0.25 6 V204-RM
5.0 0.50
0.25
13
6
V206-RM
V201-RM
10 0.25
0.125
63
V202-RM
V203-RM
15 0.25 6 V205-RM
20 0.125 3 V208-RM
晶片尺寸
探頭
工件編號
MHz 英寸 毫米
2.25 0.25 6 V204-RM
5.0 0.50
0.25
13
6
V206-RM
V201-RM
10 0.25
0.125
63
V202-RM
V203-RM
15 0.25 6 V205-RM
20 0.125 3 V208-RM
可更換延遲塊探頭選項
標(biāo)稱晶片尺寸
標(biāo)準(zhǔn)
延遲塊•
高溫
干耦合
延遲塊 備用
固定環(huán)
帶有彈簧的
支架
最高175°C
(350°F)
最高260°C
(500°F)
最高480°C
(900°F)
英寸 毫米
0.50 13 DLH-2 DLHT-201 DLHT-2 DLHT-2G DLS-2 DRR-2 2130
0.25 6 DLH-1 DLHT-101 DLHT-1 DLHT-1G DLS-1 DRR-1 2127 & DRR-1H
0.125 3 DLH-3 DLHT-301 DLHT-3 DLHT-3G DLS-3 DRR-3 2133 & DRR-3H
標(biāo)稱晶片尺寸
標(biāo)準(zhǔn)
延遲塊•
高溫
干耦合
延遲塊 備用
固定環(huán)
帶有彈簧的
支架
最高175°C
(350°F)
最高260°C
(500°F)
最高480°C
(900°F)
英寸 毫米
0.50 13 DLH-2 DLHT-201 DLHT-2 DLHT-2G DLS-2 DRR-2 2130
0.25 6 DLH-1 DLHT-101 DLHT-1 DLHT-1G DLS-1 DRR-1 2127 & DRR-1H
0.125 3 DLH-3 DLHT-301 DLHT-3 DLHT-3G DLS-3 DRR-3 2133 & DRR-3H
• 聚焦的可更換延遲塊。
• 尖端直徑極小的特點(diǎn)可以提高在曲面及小缺口上的檢測性能。
• 手柄可以方便探頭頭部的定位。
頻率• 標(biāo)稱
晶片尺寸•
探頭
工件編號
MHz 英寸 毫米 平直•
手柄
直角•
手柄•
45°•
手柄
15 0.125 3 V260-SM V260-RM V260-45
Sonopen可更換延遲塊
尖端直徑 工件編號
英寸 毫米
| 0.080 | 2.0 | DLP-3 |
| 0.060 | 1.5 | DLP-302 |
| 0.080 | 2.0 | DLP-301* |
（350°F）的情況下使用。
這些探頭用于伸到空間極其狹小的區(qū)域進(jìn)行探測，如：相距很近的渦輪葉片。探頭可旋轉(zhuǎn)的頭部提高了其在狹小區(qū)域接觸被測工件的能力。
頻率
| 標(biāo)稱 晶片尺寸 | |
| 英寸 | 毫米 |
| 0.125 | 3 |
MHz 微秒
20 1.5 M2054
20 0.125 3 4.5 M2055
20 0.125 3 4.0 V2034
V260-45• V260-SM• V260-RM•
DLP-301
