TFM(全聚焦法)檢測(cè)使用AIM 建模工具為反射體選擇最佳傳播模式
TFM(全聚焦法)檢測(cè)使用AIM 建模工具為反射體選擇最佳傳播模式
將全聚焦法引入無(wú)損檢測(cè)
全聚焦法(TFM)在無(wú)損檢測(cè)(NDT)領(lǐng)域引起了廣泛的關(guān)注。但是在使用TFM時(shí)還有一些挑戰(zhàn)需要解決，比如為給定的檢查選擇正確的傳播模式(波集)。一些早期采用這種方法的人很快意識(shí)到，使用錯(cuò)誤的模式可能意味著完全失去來(lái)自屏幕的指示，這帶來(lái)了明顯的關(guān)鍵影響。
使用TFM選擇適當(dāng)設(shè)置的挑戰(zhàn)
當(dāng)選擇一個(gè)給定的檢驗(yàn)的傳播模式(波集)時(shí)，檢驗(yàn)員需要知道在被檢驗(yàn)的部分可能會(huì)出現(xiàn)什么樣的缺陷。缺陷的類(lèi)型將提供反射器的方向信息，這在超聲檢測(cè)(UT)中是至關(guān)重要的。傳統(tǒng)UT、相控陣UT或TFM的基本原理是相同的。為了有一個(gè)好的探測(cè)概率(POD)，聲波需要與反射器有盡可能多的垂直度。另一個(gè)需要考慮的是探頭參數(shù)。根據(jù)所使用的探頭，能量可能無(wú)法達(dá)到目標(biāo)缺陷。盡管TFM區(qū)域是在一個(gè)特定的位置繪制的，但是物理上可能不允許這個(gè)特定的探測(cè)將焦點(diǎn)放在那個(gè)位置。有這么多的因素要記住，那么我們?nèi)绾魏?jiǎn)化并確保我們的檢查是適當(dāng)?shù)哪?
相同的探頭位置
不同模式
TT
TTT
LLL圖1-嘗試將一系列SDHs成像的不同模式。
使用聲學(xué)影響圖建模工具求解
OmniScan®X3相控陣探傷儀配有內(nèi)置的掃描計(jì)劃工具。它是一個(gè)專(zhuān)門(mén)為T(mén)FM檢測(cè)設(shè)計(jì)的聲學(xué)影響圖(AIM)建模工具。AIM工具幫助用戶選擇正確的傳播模式，或波集，以供檢查。
圖2- OmniScan X3在TFM中的掃描計(jì)劃，顯示聲學(xué)影響圖(AIM)
AIM建模工具考慮多個(gè)參數(shù)，包括探頭和楔塊、速度、厚度、試樣的幾何形狀、檢測(cè)技術(shù)、波集，當(dāng)然，還有檢查員在“影響區(qū)”菜單中輸入的參數(shù)，以描述目標(biāo)缺陷類(lèi)型。
缺陷的方向是影響聲波束探測(cè)缺陷的主要因素。AIM模型清楚地向用戶演示了針對(duì)給定缺陷在特定角度的信號(hào)覆蓋有多好。
利用目標(biāo)建模工具確定最佳傳播模式
用戶繪制所需的感興趣區(qū)域，然后輸入缺陷的預(yù)期方向(以度為單位)，或者選擇“全向”尋找非角度的缺陷，如孔隙度或其他體積類(lèi)型的缺陷。
調(diào)色板可以清楚地識(shí)別影響區(qū)域的每個(gè)部分的靈敏度性能。每一種顏色覆蓋三分貝范圍，表示超聲波對(duì)最大振幅的響應(yīng):
圖2-三張掃描圖截圖顯示，當(dāng)缺陷的方向被調(diào)整到- 5、- 15和- 25度時(shí)，目標(biāo)的變化
目標(biāo)建模工具在TFM中的優(yōu)勢(shì)總結(jié)
TFM為工業(yè)檢測(cè)應(yīng)用提供了良好的機(jī)會(huì)，但是沒(méi)有合適的建模工具，很難預(yù)測(cè)真實(shí)的聲波覆蓋范圍和靈敏度水平。OmniScan X3型探傷機(jī)的掃描計(jì)劃工具帶有目標(biāo)建模功能，使檢驗(yàn)員能夠自信地確定哪一種TFM模式適合進(jìn)行檢測(cè)。
有關(guān)TFM對(duì)相控陣超聲檢測(cè)的好處的更多信息，請(qǐng)閱讀我們的應(yīng)用說(shuō)明“使用總聚焦方法改進(jìn)相控陣超聲成像”。
